Структурна діагностика тонкоплівкових і об’ємних матеріалів методами високроздільної Х-променевої дифрактометрії

Назва послуги/продукції

Структурна діагностика тонкоплівкових і об’ємних матеріалів методами високроздільної Х-променевої дифрактометрії

Стислий опис послуги/продукції

Кількісний фазовий аналіз зразків різних форм та розмірів;

структурний та фазовий аналіз тонких плівок в ковзній геометрії;

Х-променева рефлектометрія;

визначення залишкових напруг в режимах як Psi, так і Omega сканування;

діагностика структурної якості за високороздільними картами розсіяння в околі вузлів оберненої гратки;

визначення параметрів багатошарових епітаксійних структур (товщина шарів, склад, період повторення) методом Х-променевої дифрактометрії.

1)Наявне обладнання

2)Кадровий потенціал(к-сть) для надання послуги/виробництва продукції

1) Високороздільний рентгенівський дифрактометр PANalytical X'Pert PRO MRD (Philips)

2) Кваліфікований персонал в складі двох старших наукових співробітників з досвідом роботи понад 15 років.

Наявність сертифікації обладнання та устаткування

Сертифікат відповідності

Наявність охоронних документів об’єктів інтелектуальної власності, їх чинність

Орієнтовна ціна послуги/продукції

Договірна

Які проблеми дана послуга/продукція вирішує

Визначення компонентного і деформаційного стану кристалічних матеріалів та структур, характеризація аморфних і кристалічних тонких плівок, прецензійна діагностики напівпровідникових наноструктур.

Які підприємства/галузі можуть бути споживачами даної послуги/продукції

Виробники елементної бази напівпровідникової фотоенергетики і споживачі фотоелектричних батарей

Приблизні строки виконання послуги/виготовлення продукції:

а) дослідного зразка;

б) дослідно-промислової партії;

в) впровадження продукції

Від 1 робочого дня