Розвиваєте deep tech?

Ми допоможемо на
будь-якому етапі!

Аналіз структури, фазового та хімічного складу матеріалів

Аналіз структури, фазового та хімічного складу матеріалів Замовити послугу

Назва послуги/продукції

Аналіз структури, фазового та хімічного складу матеріалів методами раманівської, фотолюмінесцентної та інфрачервоної Фур’є мікро-спектроскопії.

Стислий опис послуги/продукції

Мікро-Раманівський, фотолюмінесцентний та ІЧ аналіз випромінювальних властивостей, структури, хімічного складу, електронних і фононних збуджень в твердих тілах, фізико-хімічних характериcтик напівпровідників, хімічних сполук, наноструктур та нанокомпозитів з субмікронним просторовим розділенням; мікро-Раманівське і люмінесцентне 2D-3D просторове картографування: 

  • деформацій та хімічного складу; 
  • температури; 
  • концентрації і рухливості носіїв заряду;
  • оптичного випромінювання наноструктур;

оптичні низькотемпературні дослідження фононних, плазмон-фононних, електронних  збуджень, випромінювальної рекомбінації носіїв заряду в конденсованих системах; інфрачервона спектроскопія пропускання, ATR, дифузного та дзеркального відбивання; атестовані метрологічні вимірювання згідно галузі.

1)    Наявне обладнання

Кадровий потенціал(к-сть) для надання послуги/виробництва продукції

1.1.           Потрійний раманівсько-люмінесцентний спектрометр Horiba Jobin-Yvon T64000 (200 - 1700 нм): конфокальний мікроскоп UV-Visible-NIR Olympus BX41;  моторизований XYZ скануючий столик з кроком 0,1 мкм (Marghauser GmbH);  He-Cd лазер KIMMON KOHA IK5651R-G (325 та 442 нм),  Ar-Kr лазер Stabilite 2018-RM Spectra Physics (488 нм), твердотільні лазери Spectra Physics EXLSR-532-150-CDRH (532 нм) та Toptica Photonics iBeam-Smart-785-S-WS (785 нм); оптичний мікро-кріостат RC102-CFM (3.5 - 325 К) (CIA CRYO Industries); мікро-температурна комірка Linkam Scientific Instruments THMS600 (80 - 900K).

1.2.           Інфрачервоний вакуумний Фур’є спектрометр Bruker Vertex 70V (12500 - 50 см-1) з ІЧ-Фур’є мікроскопом Hyperion II: модулі для вимірювання ІЧ спектрів оптичного пропускання, дифузного та дзеркального відбивання, ATR та ІЧ випромінювання; оптичні ІЧ гелієвий та азотний кріостати (3,5 - 500 К); температурна комірка Linkam Scientific Instruments HFS350EV-PB4 (80 – 900 K).

В лабораторії на постійній основі працюють 6 співробітників: 1 провідний науковий співробітник, доктор фіз.-мат. наук; 2 старших науковий співробітника, кандидата фіз.-мат. наук; 2 наукових співробітника кандидата фіз.-мат. наук та 1 провідний інженер, аспірант.

Наявність сертифікації обладнання та устаткування

1)            Свідоцтво про атестацію лабораторії оптичної субмікронної спектроскопії ІФН НАНУ на проведення вимірювань показників об’єктів згідно із галуззю (Свідоцтво №ПТ-249/147 видане 21.07.2014 р. ДП «Укрметртестстандарт»).

2) Свідоцтво про державну метрологічну атестацію Раманівського спектрометру Jobin Yvon T64000 на визначення хвильових чисел методом Раман-спектроскопії при дослідженні оптичних спектрів для первинної ідентифікації речовин (свідоцтво №37-220-14 від 16.04.2014 р. ДП «Укрметртестстандарт»)

Наявність охоронних документів об’єктів інтелектуальної власності, їх чинність

1)              Універсальна вставка кріостата для спектрофотометричних та електрооптичних досліджень / Жарков І.П., Ходунов В.О., Стрельчук В.В., Солонецький А.Г., Сафронов В.В., Насєка В.М., Ніколенко А.С., Коновал В.М., Селиванов О.В. // Патент на корисну модель № 120275. -2017 р.

2)              Вставка кріостата для електромагнітооптичних досліджень / І.П. Жарков, В.М. Коновал, А.С. Ніколенко, А.Г. Солонецький, В.В. Стрельчук, В.В. Сафронов, О.В. Селиванов, В.М. Насєка, В.О. Маслов // Патент на корисну модель № 120401. -2017.

Оптичний спосіб визначення розподілу температури у функціональних елементах приладних ІІІ-N структур в робочих режимах В.В. Стрельчук, О.Ф. Коломис, А.С. Ніколенко, Ю.М. Насєка, В.М. Насєка, К.А. Авраменко, А.С. Романюк, М.І. Бойко // Патент на корисну модель №13141. -2013 р.

Орієнтовна ціна послуги/продукції

Договірна

Які проблеми дана послуга/продукція вирішує

Вирішує проблему неруйнівного експресного аналізу просторового розподілу структурного, фазового та хіміного складу матеріалів, їх електронних та фононних властивостй, деформацій, концентрації та рухливості носіїв заряду, що, наприклад, може бути важливим для розробки нових функціональних матеріалів, композитів та приладних структур на їх основі.

Які підприємства/галузі можуть бути споживачами даної послуги/продукції

Наукові інститути та університети, підприємства військово-промислового комплексу, електронної, хімічної та фармокологічної промисловості.

Приблизні строки виконання послуги/виготовлення продукції:

а) дослідного зразка;

б) дослідно-промислової партії;

в) впровадження у виробництво.

а) 1 день;

б) 1 тиждень;

в) 1 рік.

Замовити